電子產品的可靠性試驗方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。 

    *種方法是“試驗——問題記錄——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產品，通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進行改進，而是把問題記錄下來，待在一個試驗階段結束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機理，集中地進行改進，然后再進行試驗。采用這種試驗法，產品可靠性將有較大的躍進。這種試驗法，比較適用于一批試驗機中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。 

    第二種方法是“試驗——改進——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產品，通過試驗，暴露產品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產品的失效模式和失效機理，找出問題就立即改進，然后再試驗證實所解決的問題，使產品的可靠性得到增長。這種方法在電子產品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗，暴露出產品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進行必要的改進是能夠使產品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴重問題的情況，針對性較強。 

    第三種方法是“含延緩改進的試驗——改進——再試驗”模式。該方法是將方法一和方法二結合起來，通過試驗發(fā)現(xiàn)了產品的問題，有些改進在試驗中了產品的問題，有些改進在試驗中立即著手進行，有些延緩到試驗結束后再作改進。在試驗中，對能及時改進的問題，立即采取措施改進產品，提高可靠性，在試驗階段結束后，把延緩的問題至下次試驗開始前進行改進，然后再進行試驗，使產品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進的，另一些問題卻需要相當一段時間才能改進的綜合情況。 

    對于以上所述的三種方法，電子產品在研制階段中，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應用。可靠性試驗中常用的三種方法往往是周而復始地循環(huán)，并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產品的可靠性水平向上增長，另外可靠性試驗除通過系統(tǒng)試驗外，還應根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來暴露產品生產的薄弱環(huán)節(jié)，進行綜合的科學分析，做相應的改進，使得電子產品在設計研制階段對其固有可靠性有進一步的提高。 

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